一种测试方法技术实施例提高测试的效率(一)(组图)

本发明专利技术实施例提供了一种测试方法及芯片，该测试方法具体包括：通过芯片的固定电压接口向芯片输入电压；通过芯片的数据和指令接口向芯片输入控制指令，控制指令输入完成后，停止向芯片输入电压；向芯片输入控制指令后，通过数据和指令接口向芯片输入识别指令；向芯片输入识别指令后，通过数据和指令接口向芯片输入位形式的数据内容；其中，数据内容包括以下类型中的至少一种：指令类型、地址类型和数据类型。将比特形式的数据内容输入芯片后，根据识别指令识别数据内容的类型；根据数据内容和识别出的数据内容的类型在芯片上进行测试，得到测试结果。本发明专利技术的实施例可以提高测试的效率。

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【技术实现步骤总结】

这项专利技术涉及电子

特别是涉及到测试方法和芯片。

技术介绍

随着便携式电子产品市场的快速增长，这些电子产品所使用的芯片也得到了快速的发展，测试是决定芯片能否量产的重要因素。现有的开放式NAND闪存接口（ce，ONFI）分为两种数据接口类型：x8和x16。其中，x8数据接口类型ONFI有8个输入输出（input/，I/O）接口，x16数据接口类型有16个I/O接口。以x8数据接口类型的ONFI为例。现有的测试方法数据以字节形式通过I/O接口输入。使用的测试接口有：片选、读时钟输入、写时钟输入手机测试esd是模拟哪种模型，共有16个接口，包括地址锁存使能、指令锁存使能、写保护使能、I/O接口PAD_I/O、VDD和VSS。当x8数据接口类型的ONFI用上述测试方法进行晶圆测试时，每个芯片需要16个探针。同样，x16数据接口类型的ONFI需要更多的probe，而测试仪的probe数量有限，因此每次测试方法测试的芯片数量有限，严重影响测试效率。

技术实现思路

本专利技术实施例所要解决的技术问题是提供一种测试方法，提高晶圆测试过程中的测试效率。相应地，本专利的技术实施例还提供了一种芯片来保证上述方法的实现和应用。为解决上述问题，本专利技术公开了一种测试方法，包括：通过芯片的固定电压接口向芯片输入电压；通过芯片的数据和指令接口向芯片输入控制指令，控制指令输入完成后，停止向芯片输入电压；向芯片输入控制指令后，通过数据指令接口向芯片输入识别指令；向芯片输入识别指令后，通过数据指令接口向芯片输入位形式的数据内容；其中，数据内容包括以下类型中的至少一种：指令类型、地址类型和数据类型；在以位形式的数据内容之后，根据识别指令识别数据内容的类型；根据数据内容和识别出的数据内容的类型对芯片进行测试手机测试esd是模拟哪种模型，得到测试结果。优选地，所述识别指令包括以下指令中的至少一个：第一识别指令、第二识别指令和第三识别指令；第一识别指令用于识别数据内容为指令类型，第二识别指令用于识别数据内容为地址类型，第三识别指令用于识别数据内容为数据类型。根据识别指令识别数据内容的类型包括： 当识别指令为第一识别指令时，将数据内容的类型识别为指令类型。和/或当识别指令为第二识别指令时，将数据内容的类型识别为地址类型；和/或当识别指令为第三识别指令时，识别数据内容的类型为数据类型。

优选地，该方法还包括：通过数据和指令接口输出测试结果。优选地，在向芯片输入控制命令之前，该方法还包括：通过芯片的时钟信号接口向芯片输入时钟信号，其中，时钟信号用于控制芯片执行控制指令的输入，识别指令和数据内容，以及测试结果的输出。另一方面，该专利技术还公开了一种芯片，包括：固定电压接口，用于向芯片输入电压；数据和命令接口，用于依次向芯片输入控制指令、识别指令和位模式的数据内容；其中，数据内容包括以下类型中的至少一种：指令类型、地址类型和数据类型；识别模块，用于根据识别指令识别数据内容的类型；测试模块，用于根据数据内容和识别的数据内容的类型对芯片进行测试，得到测试结果；其中，固定电压接口还用于在控制命令输入完成后停止向芯片发送数据。芯片输入电压。优选地，所述识别指令包括以下指令中的至少一个：第一识别指令、第二识别指令和第三识别指令；第一识别指令用于识别数据内容为指令类型，第二识别指令用于识别数据内容为地址类型，第三识别指令用于识别数据内容为数据类型。识别模块包括：第一识别单元，用于识别指令当为第一识别指令时，识别数据内容的类型为指令类型。和/或第二识别单元用于当识别指令为第二识别指令时将数据内容的类型识别为地址类型和/或第三识别单元用于当识别指令为第二识别指令时将数据内容的类型识别为数据类型识别指令为第三识别指令。

最好也使用数据和命令接口来输出测试结果。优选地，所述芯片还包括：时钟信号接口，用于在数据和指令接口向芯片输入控制指令之前向芯片内部输入时钟信号，其中时钟信号控制芯片执行控制指令的输入，识别指令和数据内容，以及测试结果的输出。本专利技术实施例与现有技术相比具有以下优点：可以通过数据和指令接口将本专利技术实施例的测试过程所需的数据内容输入到芯片中，进行识别。通过相同的数据和指令接口输入指令来识别数据内容的类型，然后可以使用上述输入的数据内容来测试芯片在芯片中的功能，而现有的测试方法需要输入所需的数据内容通过八个接口进行测试，通过其他三个接口与识别数据内容类型的接口相比，本专利的技术实施例减少了芯片测试所需的接口，无需在芯片上增加逻辑功能。因此，该专利的技术体现减少了测试所需的时间。测试仪需要的探针数量多，每个测试仪测试的芯片数量多，在进行晶圆测试时可以提高测试的效率。图2是专利技术的测试方法第二实施例的步骤流程图；图3是专利技术的测试方法的第三实施例的步骤流程图；图4是专利技术的步骤流程图。 图5是专利技术的芯片结构示意图；图6是专利技术实施例5的测试方法的步骤流程图。图7为图8为专利技术实施例的芯片结构示意图；图9是专利技术实施例2的芯片结构示意图。图10是专利技术的芯片实施例示意图。 专利技术的芯片实施例三的结构示意图；和图。图11是专利技术芯片实施例四的结构示意图。

具体实施方式为使上述专利技术的目的、特征和优点更加明显易懂，下面结合附图及具体实施方式对本专利技术作进一步详细说明。方法实施例1 参考图1，示出了专利技术的测试方法实施例1的步骤流程图，具体可以包括以下步骤： 步骤101、通过上述芯片输入芯片电压的固定电压接口；本专利的技术实施例可以应用于芯片的晶圆测试。晶圆测试是对晶圆上的每个裸片进行针测，以测试一些基本的器件参数。检测头上安装有金线制成的探针，与裸片上的接触垫相连。接触，测试其电气特性，不合格的芯片会被打上标记，然后当晶圆根据芯片切割成独立的芯片时，带有标记的不合格芯片将被淘汰，不再进行进一步的加工。一种制造工艺，以免增加制造成本。在本专利的技术实施例中，上述电压用于驱动芯片进入串口模式输入数据内容，即上述电压输入芯片后，控制命令，识别命令和数据内容可以从一个I/O接口传输到芯片内部。在具体实施过程中，上述输入电压的具体值可以由本领域技术人员确定。事实上，只要输入电压为一个稳定值，都是可行的，本专利技术实施例不作具体限定。其中，固定电压接口可以是上述芯片中除I/O接口以外的任何接口，本领域技术人员在具体实现过程中可以确定，本专利技术实施例不作具体限定。步骤10 2、通过上述芯片的数据和命令接口向上述芯片输入控制指令

测试方法和芯片’ />

【技术保护点】

一种测试方法，其特征在于，该方法包括：通过芯片的固定电压接口向芯片输入电压；通过芯片的数据和命令接口向芯片输入控制指令，然后在控制指令输入完成后，停止向芯片输入电压；向芯片输入控制指令后，通过数据指令接口向芯片输入识别指令；向芯片输入识别指令后，通过数据指令接口向芯片输入位形式的数据内容；其中，数据内容包括以下类型中的至少一种：指令类型、地址类型和数据类型；在以位形式的数据内容之后，根据识别指令识别数据内容的类型；根据数据内容和识别出的数据内容类型对芯片进行测试，得到测试结果。

【技术特点总结】

1.一种测试方法，其特征在于，该方法包括：通过芯片的固定电压接口向芯片输入电压；通过芯片的数据和命令接口向芯片输入控制指令输入完成后，停止向芯片输入电压；向芯片输入控制指令后，通过数据和指令接口向芯片输入识别指令；芯片输入识别指令后，通过数据指令接口将位形式的数据内容输入芯片；其中，数据内容包括以下类型中的至少一种：指令类型、地址类型和数据类型；将比特形式的数据内容输入芯片后，根据识别指令识别数据内容的类型；根据数据内容和识别出的数据内容的类型对芯片进行测试，得到测试结果。 2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述识别指令包括以下指令中的至少一个：第一识别指令、第二识别指令、第三识别指令；识别指令用于将数据内容识别为指令类型，第二识别指令用于将数据内容识别为地址类型，第三识别指令用于将数据内容识别为数据类型。识别指令识别数据内容类型的步骤包括：当识别指令为第一识别指令时，将数据内容的类型识别为指令类型；和/或当识别指令为第一识别指令时，第二识别指令中，识别数据内容的类型为地址类型；和/或当识别指令为第三识别指令时，识别数据内容的类型为数据类型。 3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：通过数据和指令接口输出测试结果。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在输入到芯片中

t 在输入控制命令之前，该方法还包括：通过芯片的时钟信号接口向芯片输入时钟信号，该时钟信号用于控制芯片进行控制……

【专利技术属性】

技术研发人员：苏志强、丁冲、陈立刚、谢瑞杰、

申请人（专利权）：北京兆易创新科技有限公司，

类型：发明

国家省市：北京；11

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文章来源:https://www.jigao616.com/zhuanlijieshao_14483449.aspx

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